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TSI 1NM 3938E77型掃描電遷移粒徑譜儀

更新時間:2024-03-17

簡要描述:

產品詳情

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量 標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后,SMPS粒徑譜 儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。。
以下特性和優勢是基于由 3082 型靜電分級器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強儀 、3772型凝聚粒子計數器 等組

產品詳情

 

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量 標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后,SMPS粒徑譜 儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。。

以下特性和優勢是基于由 3082 型靜電分級器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強儀 、3772型凝聚粒子計數器 等組件共同組成的SMPS掃描電遷移粒徑譜儀。

 

特性和優勢

 

高分辨率粒徑分布

+ 64通道/10倍粒徑

+ 1到50nm之間多于109通道

給您比較大靈活度的組件設計

1nm到50nm的極寬粒徑范圍

+和3081A型長差分電遷移分析儀配套使用能夠測量1nm到1um

三個數量級的粒徑

化設計,將散逸損失降到比較低,系統高度整合

通過氣溶膠儀器管理(AIM)軟件進行系統操作

離散顆粒物測量:多模態樣品測量效果*

 

應用

 

基礎氣溶膠研究

顆粒成核及生長研究

大氣及氣候研究

燃燒及發動機排放研究

過濾器及空氣凈化器測試

吸入或暴露艙研究

健康影響因素研究

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